大部分电子组件的湿度试验强调在元器件表面不要出现凝露,采用如下的技术可防止凝露形成。
一、为什么凝露会发生?
假如样品温度低于试验箱内流动空气的露点温度,样品上将发生冷凝。这样假设试验箱内流动空气的温度为85℃,相对湿度为85%,空气的露点为80.9℃,试件表面将产生凝露。因此为了防止凝露,做恒湿试验之前,要先把样品温度升到试验箱内空气温度。
(空气露点温度>样品温度)→发生凝露
(空气露点温度<样品温度)→不发生凝露
| 干球温度 | 相对湿度(R.H) | 露点温度 ( ℃ ) |
| 60 | 85 | 56.5 |
| 70 | 85 | 66.3 |
| 90 | 67.7 | |
| 85 | 85 | 80.9 |
| 90 | 82.3 |
二、防止样品表面凝露程序示例
使用以下方式(防止样品表面凝露程序示例图)可防止样品表面凝露。本例程序的温度为85℃、相对湿度为85%。
在第2步程序中把温度升高到85℃,假设湿度也升到85%RH,样品温度可能保持低于凝露点,样品表面将产生凝露,因此本程序仅仅是把温度控制在85℃。第二步程序的长度,将按照样品热容量变化而变化,目的是保证有足够的时间使试验箱内温度稳定在85℃。
第二步试验箱在设定温度85℃,湿度85%RH的程序,在这一步虽然湿度控制刚开始,但样品温度已达85℃,将不会产生凝露。
