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产品名称:金属镀层测厚仪
产品型号:GT-XRF-2000

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.



可测元素范围:                                                       
钛(Ti) – 铀(U)                                                 
可测量厚度范围:                                                   
原子序 22-25,0.1-0.8μm                                                    
26-40,0.05-35μm                                                   
43-52,0.1-100μm                                                   
72-82,0.05-5μm                                                     
X-射线管:油冷,超微细对焦                                                       
高压:0-50KV(程控)                                                      
准直器:                                                     
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm                                                       
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm                             
电脑系统:IBM相容,17”显示器                                                     
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析                                                 
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.                                     
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.                                                  
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.                   
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.                                                 
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.                                          
 

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